[发明专利]芯片的调试系统、调试方法和调试装置

摘要

本发明公开了一种芯片的调试系统、调试方法和调试装置。其中，该调试系统包括：芯片，芯片包括第一控制器；第二控制器，第二控制器包括第一接口，第一接口与芯片连接，第二控制器用于将计算机的第一调试命令转换为芯片支持的格式得到第二调试命令，并将第二调试命令发送给芯片，和/或将芯片对于第二调试命令的响应发送给计算机；计算机，计算机通过计算机的串口与第二控制器的第二接口连接，计算机用于发送第一调试命令和/或接收芯片对于第二调试命令的响应。通过本发明，解决了现有技术中具有内部MCU的芯片没有串口的问题，通过第二控制器转发调试命令和对于调试命令的响应，以实现计算机对具有内部MCU的芯片的调试。

主权项

一种芯片的调试系统，其特征在于，包括：芯片，所述芯片包括第一控制器；第二控制器，所述第二控制器包括第一接口，所述第一接口与所述芯片连接，所述第二控制器用于将计算机的第一调试命令转换为所述芯片支持的格式得到第二调试命令，并将所述第二调试命令发送给所述芯片，和/或将所述芯片对于所述第二调试命令的响应发送给所述计算机；所述计算机，所述计算机通过所述计算机的串口与所述第二控制器的第二接口连接，所述计算机用于发送所述第一调试命令和/或接收所述芯片对于所述第二调试命令的响应。