[发明专利]用于测试具有微间距阵列的面板的探针单元

摘要

本文中公开了一种用于测试具有微间距阵列的面板的探针单元，用于电气测试液晶面板，在液晶面板的边缘区具有多个以微间距布置的焊盘电极，以在其上安装测试驱动芯片，探针单元包括基膜，该基膜包括形成于其上的连接图案，并且用于电气测试液晶面板的电信号施加至该连接图案；包括输入引线和输出引线的测试驱动芯片，该测试驱动芯片具有与驱动芯片的图案相同的图案，并且该测试驱动芯片安装在基膜上，使得所述输入引线与所述连接图案接触；触头，这些触头与所述测试驱动芯片的所述输出引线直接接触，以使所述液晶面板的所述焊盘电极连接至所述测试驱动芯片的所述输出引线；以及本体块，该本体块具有供所述测试驱动芯片及所述基膜固定的下表面。

主权项

一种用于电气测试液晶面板的探针单元，在所述液晶面板的边缘区具有多个以微间距布置的焊盘电极，以在该液晶面板上安装测试驱动芯片，所述探针单元包括：基膜，该基膜包括形成于其上的连接图案，用于电气测试所述液晶面板的电信号施加至该连接图案；包括输入引线和输出引线的测试驱动芯片，该测试驱动芯片具有与所述液晶面板的驱动芯片的图案相同的图案，并且该测试驱动芯片安装在所述基膜上，使得所述输入引线与所述连接图案接触；触头，这些触头与所述测试驱动芯片的所述输出引线直接接触，以使所述液晶面板的所述焊盘电极连接至所述测试驱动芯片的所述输出引线；以及本体块，该本体块具有供所述测试驱动芯片及所述基膜固定的下表面，所述基膜延伸至所述测试驱动芯片的所述输出引线的形成位置，并且所述触头在所述测试驱动芯片上形成的所述输出引线的正下方的位置处穿透所述基膜。