[发明专利]一种X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法在审
| 申请号： | 201410462090.6 | 申请日： | 2014-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN104198513A | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 刘召贵;余正东;王俊鹏;李强;吴敏;姚栋樑 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 215347 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，包括步骤一、标准样品标准曲线制作：将系列有标准含量梯度的镉谷物粉末，过目筛，装入样品杯并压实；将系列标准样品上机扫描，获取已知含量标准样的X荧光强度，标定标准曲线；步骤二、待测样品处理：取定量谷物去皮，粉碎过目筛；取其与步骤一中等量粉末制装入样品杯并压实，形成待测样品；上机测试，进行含量计算;本发明可以优化目前的检测精度和重复性，保证了测试结果的高精确性和好的规则性以及好的均匀性，同时还具有处理方法简单，仅使用锤式旋风磨对样品进行粉碎过筛处理即可，时间短，样品前处理仅需2min，仪器测试简单，一键化操作即可以及无仪器环保无任何废弃耗材。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 光谱 谷物 元素 快速 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，包括：步骤一、标准样品标准曲线制作：将一系列有标准含量梯度的镉谷物粉末，分别过目筛，装入样品杯并压实；将系列标准样品上机扫描，获取已知含量标准样的X荧光强度，标定标准曲线；步骤二、待测样品处理：取一定量谷物去皮，粉碎过目筛；取其与步骤一中等量的粉末制装入样品杯并压实，形成待测样品；上机测试，进行含量计算。
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