[发明专利]一种X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法

摘要

本发明公开了一种X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法，包括步骤一、标准样品标准曲线制作：将系列有标准含量梯度的铅谷物粉末，过目筛，装入样品杯并压实；将系列标准样品上机扫描，获取已知含量标准样的X荧光强度，标定标准曲线；步骤二、待测样品处理：取定量谷物去皮，粉碎过目筛；取其与步骤一中等量粉末制装入样品杯并压实，形成待测样品；上机测试，进行含量计算;本发明可以优化目前的检测精度和重复性，保证了测试结果的高精确性和好的规则性以及好的均匀性，同时还具有处理方法简单，仅使用锤式旋风磨对样品进行粉碎过筛处理即可，时间短，样品前处理仅需2min，仪器测试简单，一键化操作即可以及无仪器环保无任何废弃耗材。

主权项

一种X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法，其特征在于，包括：步骤一、标准样品标准曲线制作：将一系列有标准含量梯度的铅谷物粉末，分别过目筛，装入样品杯并压实；将系列标准样品上机扫描，获取已知含量标准样的X荧光强度，标定标准曲线；步骤二、待测样品处理：取一定量谷物去皮，粉碎过目筛；取其与步骤一中等量的粉末制装入样品杯并压实，形成待测样品；上机测试，进行含量计算。