[发明专利]非标定型检测系统及其检测的方法有效
申请号: | 201410474295.6 | 申请日: | 2014-09-17 |
公开(公告)号: | CN104515740B | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 李光立;魏培坤 | 申请(专利权)人: | 中央研究院 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/552;G01B11/06 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 汤在彦 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供了一种用于检测化学物质的非标定型检测系统及其检测的方法,非标定型检测系统包括一非标定型检测晶片,其包含多组具有不同周期长度的周期性金属结构;以及一窄频光源。本发明的检测方法简便快速、成本低廉,可直接用肉眼观察,也可进一步进行定性与半定量的分析,非常适用于定点照护检测。 | ||
搜索关键词: | 非标 定型 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种用于检测化学物质的非标定型检测系统,其特征在于,所述非标定型检测系统包括:一非标定型检测晶片,其包含多组具有不同周期长度的多层周期性金属结构,所述周期性金属结构选自周期性金属孔状结构、或周期性金属狭缝结构;以及一窄频光源。
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