[发明专利]一种照射系统射频参数和导弹电气参数校准装置有效

专利信息
申请号: 201410474508.5 申请日: 2014-09-17
公开(公告)号: CN105486939B 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 陈斌;徐海燕;辛康;谢恒贵 申请(专利权)人: 上海精密计量测试研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G05B23/02
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 金家山
地址: 201109 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种照射系统射频参数和导弹电气参数校准装置,包括:测量模块、与所述测量模块连接,并接收测量模块测量数据的嵌入式控制器;对测量模块进行适配的多路适配器。
搜索关键词: 一种 照射 系统 射频 参数 导弹 电气 校准 装置
【主权项】:
1.一种照射系统射频参数和导弹电气参数校准装置,其特征在于,包括:测量模块、与所述测量模块连接,并接收测量模块测量数据的嵌入式控制器;对测量模块进行适配的多路适配器;所述测量模块包括:PXI高速数采模块、PXI数字多用表模块、PXI多路复用开关模块、频谱分析仪、功率敏感器;照射系统射频参数校准时,照射系统射频信号经过频谱分析仪混频至中频后输入到PXI高速数采模块,PXI高速数采模块进行采集后,将采集到的射频信号送入到嵌入式控制器,所述嵌入式控制器通过二次解调获取照射系统需要校准的射频参数;火控指挥仪多普勒预装信号输入到PXI高速数采模块,PXI高速数采模块将采集到的预装信号输入到嵌入式控制器,并对预装信号进行解调,获得多普勒预装信号需校准的参数;最后,分别由照射系统需要校准的射频参数和多普勒预装信号需校准的参数进行相位比较,获得两者的相位差,即调制相移。
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