[发明专利]一种频谱检测方法及其装置

摘要

本发明涉及一种频谱检测方法及其装置，该方法包括S1，对接收信号进行自干扰抑制计算，得到采样信号；S2，根据所述采样信号的采样码片的相位邻差的个数和预设的虚警概率，计算判决门限；S3，计算所述采样码片的相位邻差，并计算所述相位邻差的均值；S4，根据所述相位邻差的均值计算相位邻差累加量；S5，根据所述相位邻差累加量和所述判决门限判定主用户是否存在。本发明的检测方法及其装置，使用双全工的检测方法可以实现检测和传输同时进行的目的，并且其检测速度快，计算复杂度低，稳定性好。

主权项

一种频谱检测方法，其特征在于，所述方法包括：S1，对接收信号进行自干扰抑制计算，得到采样信号；所述步骤S1具体包括：S11，对接收信号进行建模，采用如下公式：r(k)=Σl=0L-1h(l)si(k-l)+sp(k)+w(k)]]>上式中，r(k)为接收信号，si(k)为第i个发射源的自发射信号，h(l)为第l条路径的直接泄露和反射的多径分量；sp(k)和w(k)分别为想要接收的信号和噪声，L为采样的路径数量；S12，计算所述接收信号与自发射信号的相关度；S13，建立相关度矩阵；S14，根据所述相关度矩阵计算线性自干扰的值；S15，根据所述线性自干扰的值，通过所述步骤S11建立的接收信号模型生成自干扰抑制后的采样信号；S2，根据所述采样信号的采样码片的相位邻差的个数和预设的虚警概率，计算判决门限；所述判决门限根据以下公式计算：其中，N为所述采样信号的采样码片的相位邻差的个数，Pf为所述虚警概率，erfc‑1为余补误差函数的反函数；S3，计算所述采样码片的相位邻差，并计算所述采样码片的相位邻差的均值；所述步骤S3包括：S31，计算所述采样信号的每个采样码片的相位θn；θn=arctan(Im(r(n))Re(r(n)))mod2π(Re(r(n))≥0)(arctan(Im(r(n))Re(r(n)))+π)mod2π(Re(r(n))<0);]]>其中，Re(r(n))和Im(r(n))分别是所述采样码片的实部和虚部，(·)mod2π是为了保证计算的相位在[0,2π]的区间内；S32：根据计算的所述采样信号的每个采样码片的相位，计算所述采样码片的相位邻差，所述相位邻差ψn的计算公式为：ψn＝(θn+1‑θn)mod2π；S33：计算所述相位邻差的均值S4，根据所述相位邻差的均值计算相位邻差累加量；所述步骤S4包括：所述相位邻差累加量根据以下公式计算：S5，根据所述相位邻差累加量和所述判决门限判定主用户是否存在；所述步骤S5具体包括：S51：计算所述相位邻差累加量ψsum与Nπ的差的绝对值，即|ψsum‑Nπ|；S52：比较所述|ψsum‑Nπ|的值与所述判决门限的数值大小；S53：若判定主用户信号存在；否则判定所述主用户信号不存在。