[发明专利]一种基于环境辐射改变的现场目标发射率测量系统及方法在审
| 申请号： | 201410484662.0 | 申请日： | 2014-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN104266762A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 屈惠明;吉庆;陈钱;顾国华;张立广;王坤;张一帆;于雪莲;李加基 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01J5/10 | 分类号： | G01J5/10;G01J5/08 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱显国 |
| 地址： | 210094 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于环境辐射改变的现场目标发射率测量系统及方法。该系统包括沿光路方向依次共光轴设置的目标、分光镜和红外探测器；该系统还包括黑体和聚光镜，所述黑体的辐射光经聚光镜汇聚于分光镜上，并由分光镜反射到达目标，黑体的辐射光通过与目标作用然后反射至分光镜并到达探测器。首先对红外探测器进行辐射定标；采用黑体辐射为基准建立系统响应函数；测量在环境辐射强度为Vs1的条件下，红外探测器的输出响应值V1；改变环境辐射强度为Vs2的条件下，测量红外探测器的输出响应值V2；根据测得的两种不同的辐射强度条件下红外探测器的输出响应值，算出目标的反射率并求得目标的发射率。本发明为红外辐射非接触精确测温提供了必要参量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 环境 辐射 改变 现场 目标 发射 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种基于环境辐射改变的现场目标发射率测量系统，其特征在于，包括沿光路方向依次共光轴设置的目标、分光镜和红外探测器；该系统还包括黑体和聚光镜，所述黑体的辐射光经聚光镜汇聚于分光镜上，并由分光镜反射到达目标，黑体的辐射光通过与目标作用然后反射至分光镜并到达探测器。
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