[发明专利]指纹细节点集合的向量化描述方法及系统有效
| 申请号： | 201410490632.0 | 申请日： | 2014-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN104268522B | 公开（公告）日： | 2018-08-03 |
| 发明（设计）人： | 冯建江;周杰;罗宇轩 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出一种指纹细节点集合的向量化描述方法，包括以下步骤：从原始指纹图像中选取参考点；根据参考点将原始指纹图像转化到预定坐标系下的矫正图像；从预定坐标系中提取预定邻域内的矫正图像的多个指纹细节点，并根据多个指纹细节点得到指纹细节点集合；对预定坐标系下预定邻域内的矫正图像进行采样，以获取多个采样点；对每个采样点利用预定长度的描述向量表示；将多个采样点的描述向量按照预定的次序组合以获取最终的指纹细节点集合的向量化描述。本发明的方法，具有高区分度的、运算效率高、鲁棒性强的优点。本发明还提出一种指纹细节点集合的向量化描述系统。 | ||
| 搜索关键词： | 指纹 细节 集合 量化 描述 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种指纹细节点集合的向量化描述方法，其特征在于，包括以下步骤：从原始指纹图像中提取指纹一级特征，并从所述指纹一级特征中选取参考点，所述指纹一级特征包括方向场和周期图；根据所述参考点将所述原始指纹图像转化到预定坐标系下的矫正图像；从所述预定坐标系中提取预定邻域内的矫正图像的多个指纹细节点，并根据所述多个指纹细节点得到指纹细节点集合，其中，所述指纹细节点包括端点和分叉点；对所述预定坐标系中预定邻域内的矫正图像进行采样，以获取多个采样点；对每个所述采样点利用预定长度的描述向量表示，其中，所述描述向量的元素值由所述采样点在所述预定邻域内的所述指纹细节点的影响值累加获得；以及将所述多个采样点的描述向量按照预定的次序组合以获取最终的指纹细节点集合的向量化描述。
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