[发明专利]集中式电子存储介质同步检测方法

摘要

集中式电子存储介质同步检测方法，涉及一种电子存储介质同步检测方法。解决现有国内外数据检测技术普遍存在功能单一、检测速度不高、操作结果无法确定的问题。它包括如下步骤，步骤一：将电子存储介质接入设备接口，识别电子存储介质的磁盘信息；步骤二：当前设备接口的电子存储介质处于等待执行状态，该状态在液晶显示屏上显示；步骤三：利用SMART对电子存储介质的磁盘进行关键属性的全面分析，步骤四：利用字符对电子存储介质进行覆写操作，步骤五：对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，用来检测电子存储介质磁盘读取速率，步骤六：拔出或断开电子存储介质，完成对电子存储介质的检测。本发明主要应用在电子存储介质的检测领域。

主权项

集中式电子存储介质同步检测方法，其特征在于，它包括如下步骤，步骤一：将电子存储介质接入设备接口，识别电子存储介质的磁盘信息；步骤二：当前设备接口的电子存储介质处于等待执行状态，该状态在液晶显示屏上显示；步骤三：利用SMART对电子存储介质的磁盘进行关键属性的全面分析，在液晶显示屏上显示出具体分析结果，所述的关键属性包括底层数据读取错误率、重定位扇区计数、电机起转重试、终端校验出错、寻道性能、通信超时、重定位事件计数、等候重定的扇区计数和无法校正的扇区数量；步骤四：利用字符对电子存储介质进行覆写操作，在操作结束后，在液晶显示屏上显示写入速度；步骤五：对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，用来检测电子存储介质磁盘读取速率，读取完成后，获得的数据在液晶显示屏上用柱状图的表达形式显示出来；步骤六：拔出或断开电子存储介质，在液晶显示屏上显示与电子存储介质相应的设备接口位置处于空闲状态，完成对电子存储介质的检测。