[发明专利]分选装置及测试装置在审

专利信息
申请号: 201410495944.0 申请日: 2014-09-24
公开(公告)号: CN104950242A 公开(公告)日: 2015-09-30
发明(设计)人: 山下毅;相泽光范;堀野浩光;山田祐也;小野泽正贵 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种分选装置及测试装置,其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置,其中包括:插座嵌合单元,在将保持被测器件的器件保持器嵌合到测试用插座之前,与测试用插座相嵌合;测试用插座位置检测部,检测在测试用插座与插座嵌合单元相嵌合的状态中插座嵌合单元相对于测试用插座的相对位置;执行器,基于检测到的插座嵌合单元的相对位置,调整器件保持器上的被测器件的位置;运送部,运送被测器件的位置被调整后的器件保持器并使其与测试用插座相嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。
搜索关键词: 分选 装置 测试
【主权项】:
一种分选装置,是将被测器件运送到测试用插座分选装置,其中包括:插座嵌合单元,在将保持所述被测器件的器件保持器嵌合到所述测试用插座之前,与所述测试用插座相嵌合;测试用插座位置检测部,检测在所述测试用插座与所述插座嵌合单元相嵌合的状态下所述插座嵌合单元相对于所述测试用插座的相对位置;执行器,基于检测到的所述插座嵌合单元的相对位置,调整所述器件保持器上的所述被测器件的位置;运送部,运送所述被测器件的位置被调整后的所述器件保持器并使其与所述测试用插座相嵌合。
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