[发明专利]一种电子器件测试仪及其测试方法有效
申请号: | 201410502249.2 | 申请日: | 2014-09-26 |
公开(公告)号: | CN104198871B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
发明(设计)人: | 刁家久;胡慧平;罗方红;刘珂;蒲廷波 | 申请(专利权)人: | 重庆梅安森科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 重庆博凯知识产权代理有限公司50212 | 代理人: | 梁展湖,李海华 |
地址: | 400039 重庆市高新区二*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明公开了一种电子器件测试仪及其测试方法,所述电子器件测试仪,包括上位机、中央处理器模块、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块、功能检测模块以及检测接口模块;该测试方法包括如下步骤1)将待测电子器件的测试端与检测接口模块相连;2)检测端口对应电路的被接通,并将该接通信号传递给功能检测模块;3)中央处理模块驱动可调电源模块,并对测试数据进行采集;4)中央处理器模块将该测试数据转传输给上位机、显示器、存储器模块以及数据输出模块;5)上位机通过中央处理器能够实现对电子器件测试数据的读取、显示以及输出。本发明能够实现智能化的实现对电子器件的检测,并且能将检测数据存储、调用和打印。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子器件 测试仪 及其 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种电子器件测试仪,其特征在于:包括上位机、中央处理器模块、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块、功能检测模块以及检测接口模块;所述上位机、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块以及功能检测模块均与中央处理器模块相连;所述功能检测模块包括可调电源模块、控制继电器、电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块;所述可调电源模块为直流稳压电源模块,其为电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块供电;所述检测接口模块包括电流检测端口、电压检测端口以及负载检测端口;所述控制继电器为转换型继电器K1和K2,可调电源模块的供电端的负极分别与电流检测模块、电压检测模块和负载检测模块相连接;可调电源模块的供电端的正极与转换型继电器K1的动触点相连,转换型继电器K1的一个静触点与电流检测模块的相连,另一个静触点与转换型继电器K2的动触点相连;同时,转换型继电器K2的动触点与电压检测模块相连,其一个静触点与负载检测模块相连,另一静触点置空,所述转换型继电器K1与K2由继电器电源供电;其中,所述电流检测端口与电流检测模块串联;电压检测端口一端与转换型继电器K2的置空静触点相连,另一端与可调电源模块的负极相连;负载检测端口与负载检测模块串联。
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