[发明专利]半导体装置有效
| 申请号： | 201410508432.3 | 申请日： | 2014-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN104517574B | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 远藤一哉 | 申请（专利权）人： | 辛纳普蒂克斯日本合同会社 |
| 主分类号： | G09G3/36 | 分类号： | G09G3/36 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 秦琳;陈岚 |
| 地址： | 日本东京都中*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种半导体装置，涉及抑制由于电源噪声而变动的基准电压对多个电路单元的不良影响。本发明的半导体装置由基准电压发生电路生成基准电压，将所生成的相同基准电压用于在多个电路单元中生成电压，其中，为了向电路单元施加基准电压而设置基准电压的采样保持电路，在控制采样保持电路的采样保持控制电路中，在所述基准电压发生电路的电源噪声收敛于规定范围的状态下所述半导体装置动作时，指示所述采样保持电路进行所述基准电压的采样动作，在所述电源噪声超过规定范围的状态下所述半导体装置动作时，指示所述采样保持电路进行所述基准电压的保持动作。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，含有：第1电路单元；基准电压发生电路，其产生基准电压；所述基准电压的采样保持电路；采样保持控制电路，其控制所述采样保持电路；以及多个第2电路单元，其输入由所述采样保持电路进行了采样保持的基准电压而进行动作，所述半导体装置的特征在于，当所述半导体装置在所述基准电压发生电路的电源噪声收敛于规定范围的状态下动作时，所述采样保持控制电路指示所述采样保持电路进行所述基准电压的采样动作，当所述半导体装置在所述电源噪声超过规定范围的状态下动作时，所述采样保持控制电路指示所述采样保持电路进行所述基准电压的保持动作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于辛纳普蒂克斯日本合同会社，未经辛纳普蒂克斯日本合同会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410508432.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
