[发明专利]太阳能电池组件局部光学性能测试方法与装置在审
| 申请号： | 201410510007.8 | 申请日： | 2014-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN104241160A | 公开（公告）日： | 2014-12-24 |
| 发明（设计）人： | 屠智革;曹艳平;许靖琨;张军;李道云 | 申请（专利权）人： | 中国建材国际工程集团有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人： | 王法男 |
| 地址： | 200061 上海市普*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种太阳能电池组件局部光学性能测试装置，包括固定待测太阳能电池组件的镂空网状结构件，镂空区域，遮挡板，设于所述镂空网状结构件内的内支撑遮挡板的支撑件和扶手，其中所述镂空网状结构件根据待测太阳能电池组件定制，以使得每块太阳能电池组件单元均有一一对应的所述镂空区域。与现有技术相比，采用本发明能简单、可靠、有效地测量待测太阳能电池组件的任何一块或多块(包括全部)太阳能电池组件单元。通过检测太阳能电池组件单元的光学性能，可以有效评估太阳能电池工艺的设计缺陷，从而在后续工艺的设计进行改良。 | ||
| 搜索关键词： | 太阳能电池 组件 局部 光学 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种太阳能电池组件局部光学性能测试装置，其特征在于，包括固定待测太阳能电池组件的镂空网状结构件，镂空区域，遮挡板，设于所述镂空网状结构件内的内支撑遮挡板的支撑件和扶手，其中所述镂空网状结构件根据待测太阳能电池组件定制，以使得每块太阳能电池组件单元均有一一对应的所述镂空区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
