[发明专利]用于测量与半导体开关器件有关的开关损耗的系统和方法有效
| 申请号： | 201410524364.X | 申请日： | 2014-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN104569648B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 陈清麒;克利须那·普拉萨德·巴特;迈克尔·W·德格尼尔;邹轲 | 申请（专利权）人： | 福特全球技术公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 李钦鹏 |
| 地址： | 美国密歇根州迪尔*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 根据本发明的示例性方面，一种用于测量与半导体开关器件有关的开关损耗的方法包括使用半导体开关器件的开关损耗信息控制车辆以及其他，开关损耗信息来源于传导损耗以及传导和开关损耗的结合。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 半导体 开关 器件 有关 损耗 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种方法，其特征在于，包含：使用半导体开关器件的开关损耗信息控制车辆，开关损耗信息来源于传导损耗以及传导和开关损耗的结合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福特全球技术公司，未经福特全球技术公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410524364.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种LED灯驱动电源测试系统
- 下一篇：电压感测系统和方法
