[发明专利]一种具有复合栅介质层的氮化镓基异质结场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 201410534795.4 申请日: 2014-10-11
公开(公告)号: CN104299999B 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 杜江锋;潘沛霖;王康;刘东;于奇 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/43;H01L29/10
代理公司: 电子科技大学专利中心51203 代理人: 李明光
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种具有复合栅介质层的氮化镓基异质结场效应晶体管,从下至上依次主要有衬底、氮化镓缓冲层、氮化镓沟道层、铝镓氮势垒层以及复合栅介质层,在势垒层上形成与其成欧姆接触的源极、漏极以及成MIS结构的栅极,复合栅介质层由高低不同介电常数的栅介质层组成,由此在沟道层的栅介质层界面形成电场峰值,在电场峰值处存在电子漂移速度的峰值,使电子在沟道整体的漂移速度增加,同时低介电常数栅介质层使栅电容减小,使器件的频率特性提升。
搜索关键词: 一种 具有 复合 介质 氮化 镓基异质结 场效应 晶体管
【主权项】:
一种具有复合栅介质层的氮化镓基异质结场效应晶体管,其结构由下至上依次主要有衬底(101),氮化镓缓冲层(102),氮化镓沟道层(103)以及铝镓氮势垒层(104),在所述铝镓氮势垒层(104)上表面的两端分别设有源极(106)、漏极(107),所述源极(106)和漏极(107)均与所述铝镓氮势垒层(104)成欧姆接触,其特征在于,在所述源极(106)与漏极(107)之间、并于铝镓氮势垒层(104)上表面还设有复合栅介质层,在所述复合栅介质层上表面形成与所述复合栅介质层成MIS结构的栅极(108),所述复合栅介质层由介电常数不同的高介电常数栅介质层(201)与低介电常数栅介质层(202)横向连接组成,所述高介电常数栅介质层(201)所用材料的介电常数大于所述低介电常数栅介质层(202)所用材料的介电常数,所述高介电常数栅介质层(201)的另一侧与所述源极(106)邻接,所述低介电常数介质层(202)的另一侧与所述漏极(107)邻接。
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