[发明专利]确定测量模式和光学系统参数容差的方法和装置有效
| 申请号： | 201410542475.3 | 申请日： | 2014-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN105571484B | 公开（公告）日： | 2018-07-06 |
| 发明（设计）人： | 王鑫;张振生;施耀明;徐益平 | 申请（专利权）人： | 睿励科学仪器（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G06F17/30;B82Y35/00 |
| 代理公司： | 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 | 代理人： | 罗朋 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于确定OCD测量中的光学系统参数容差的方案，其中，对于多个测量模式中的每一个测量模式所对应的归一化的信号偏移量；并从所述多个测量模式中选择所对应的归一化的信号偏移量最大的测量模式，作为最佳测量模式；并根据最佳测量模式所对应的未归一化的信号偏移量，确定所述光学系统参数容差。根据本实施例的方法，可以确定满足各个结构参数测量灵敏度和精确度需求的最佳测量模式，并确定各个光学系统参数容差，从而提高测量的灵敏度和精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量模式 光学系统参数 容差 信号偏移量 归一化 灵敏度 测量 结构参数测量 方法和装置 | ||
【主权项】：
1.一种在计算机设备中用于确定OCD测量中的测量模式和光学系统参数容差的方法，其中，该方法包括以下步骤：a对于多个测量模式中的每一个测量模式，根据待测结构模型的多个结构参数中每个结构参数的标称值与预设最大容差值，确定每个结构参数的归一化的信号偏移量，并通过对各个结构参数所对应的归一化的信号偏移量的数值进行对比，选择其中最小的归一化的信号偏移量，作为该测量模式所对应的归一化的信号偏移量，其中，所述测量模式规定了用于测量所述待测结构模型的测量光的光谱类型以及光学系统参数组合；b从所述多个测量模式中选择所对应的归一化的信号偏移量最大的测量模式，作为最佳测量模式；c根据最佳测量模式所对应的未归一化的信号偏移量，确定所述光学系统参数容差。
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