[发明专利]零件高度尺寸测量方法及测量工装有效
| 申请号： | 201410552059.1 | 申请日： | 2014-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN104330009B | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 耿全堂 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 郑州睿信知识产权代理有限公司41119 | 代理人： | 胡伟华 |
| 地址： | 471009 *** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供一种零件高度尺寸测量方法及测量工装，将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上，记录测量千分表的刻度值A，标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐，标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸；将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上，读出测量千分表的刻度值B；将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和，得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。上述测量方法不需要任何制式量具即可对零件的上、下基准面之间的高度尺寸进行快速、高精度的测量，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 零件 高度 尺寸 测量方法 测量 工装 | ||
【主权项】：
零件高度尺寸测量方法，其特征在于：包括如下步骤：（1）将测量千分表的测量触头顶压在标准检块的上基准面上，记录测量千分表的刻度值A，标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐，标准检块上、下基准面之间的高度尺寸为待测零件上、下基准面之间的理论高度尺寸，将测量千分表顶压在标准检块的上基准面之前，选用调平千分表将标准检块的下基准面与待测零件的下基准面进行调平，调平时先将调平千分表的测量触头顶压在待测零件的下基准面上，记录调平千分表的刻度值C，将调平千分表平移至其测量触头顶压在标准检块的下基准面上，调整标准检块的高度使得调平千分表显示刻度值C即可保证标准检块的下基准面与待测零件的下基准面平齐，所述的标准检块沿上下方向高度可调的设置在检块调整架上，所述的测量千分表沿上下方向高度可调的安装在千分表安装架上；（2）将测量千分表平移至其测量触头顶压在待测零件的上基准面上，读出测量千分表的刻度值B；（3）将步骤二得到的测量千分表的刻度值B减去步骤一得到的测量千分表的刻度值A后得到的结果再与标准检块上、下基准面之间的高度尺寸做和，即可得到待测零件上、下基准面之间的实际高度尺寸。
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