[发明专利]中阶梯光栅在扫描型光谱仪器中的应用有效

专利信息
申请号: 201410554834.7 申请日: 2014-10-17
公开(公告)号: CN104406692A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 李毅 申请(专利权)人: 北京锐光仪器有限公司
主分类号: G01J3/06 分类号: G01J3/06;G01J3/28
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 龚燮英
地址: 102206*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种中阶梯光栅在扫描型光谱仪器中的应用,属于扫描型光谱仪器技术领域。本发明入射光经第一凹面反光镜聚焦反射,经第一平面反光镜反射,在第一狭缝处聚焦;入射光经第一狭缝进入第一分光器,经第二平面反光镜反射到凹面光栅,凹面光栅通过旋转,进行波长选择、反射聚焦到第二狭缝;入射光经第二狭缝进入第二分光器,经第二凹面反光镜反射汇聚成平行光到中阶梯光栅,中阶梯光栅通过旋转,进行级次选择、反射到第三凹面反光镜,经第三凹面反光镜反射聚焦到出射狭缝。本发明将中阶梯光栅作为主分光元件,通过高级次光谱实现较高的光谱色散和理想的光学分辨率。使用中阶梯光栅能够把分光器设计的很小。
搜索关键词: 阶梯 光栅 扫描 光谱 仪器 中的 应用
【主权项】:
一种中阶梯光栅在扫描型光谱仪器中的应用,其特征在于,包括:外光路、第一分光器和第二分光器;所述外光路包括第一凹面反光镜(2)、第一平面反光镜(3)和第一狭缝(4),入射光经第一凹面反光镜(2)聚焦反射,经第一平面反光镜(3)反射,在第一狭缝(4)处聚焦;所述第一分光器包括第一狭缝(4)、第二平面反光镜(5)、凹面光栅(6)和第二狭缝(7),入射光经第一狭缝(4)进入第一分光器,经第二平面反光镜(5)反射到凹面光栅(6),凹面光栅(6)通过旋转,进行波长选择、反射聚焦到第二狭缝(7);所述第二分光器包括第二狭缝(7)、第二凹面反光镜(8)、中阶梯光栅(9)、第三凹面反光镜(10)和出射狭缝(11),入射光经第二狭缝(7)进入第二分光器,经第二凹面反光镜(8)反射汇聚成平行光到中阶梯光栅(9),中阶梯光栅(9)通过旋转,进行级次选择、反射到第三凹面反光镜(10),经第三凹面反光镜(10)反射聚焦到出射狭缝(11)。
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