[发明专利]传导控制晶体管及其制备方法以及CIS芯片结构在审
申请号: | 201410563734.0 | 申请日: | 2014-10-21 |
公开(公告)号: | CN105529340A | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 殷登平 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明的传导控制晶体管及其制备方法以及CIS芯片结构中,传导控制晶体管包括:半导体衬底,所述半导体衬底中形成有一N型深阱区和一FD有源区,所述N型深阱区表面形成有一P型浅掺杂区;所述半导体衬底中形成有一浅槽,所述浅槽位于所述N型深阱区和FD有源区之间,所述浅槽的深度大于所述P型浅掺杂区的深度,所述浅槽中形成有传导控制栅极氧化层和传导控制栅极。本发明中,所述传导控制栅极氧化层可以将所述P型掺杂区和所述FD有源区隔离,避免所述P型掺杂区产生的漏电传到所述FD有源区;并将因离子注入产生损伤的所述半导体衬底刻蚀掉形成所述传导控制栅极氧化层,可以减少损伤产生的漏电。 | ||
搜索关键词: | 传导 控制 晶体管 及其 制备 方法 以及 cis 芯片 结构 | ||
【主权项】:
一种传导控制晶体管,其特征在于,包括:半导体衬底,所述半导体衬底中形成有一N型深阱区和一FD有源区,所述N型深阱区表面形成有一P型浅掺杂区;浅槽,形成于所述半导体衬底中,所述浅槽位于所述N型深阱区和所述FD有源区之间,所述浅槽的深度大于所述P型浅掺杂区的深度,所述浅槽中依次形成有层叠的传导控制栅极氧化层和传导控制栅极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的