[发明专利]一种塑料颗粒用分析天平在审
| 申请号： | 201410565822.4 | 申请日： | 2014-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN105588775A | 公开（公告）日： | 2016-05-18 |
| 发明（设计）人： | 李玉生 | 申请（专利权）人： | 天津思迈德高分子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N5/00 | 分类号： | G01N5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300000 天*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 一种塑料颗粒用分析天平，包括框体、位于所述框体下方的支撑脚、位于所述支撑脚之间的收集箱、位于所述框体右侧的手持块、与手持快固定连接的连接杆、设置于所述连接杆上的电机、与电机连接的卡勾、设置于所述框体上表面的固定柱、固定柱所支撑的漏斗、设置于所述漏斗内的缓冲片、设置于所述框体内的支撑柱、托盘、与托盘固定连接的托杆、位于所述支撑柱一侧的收容柱、位于所述支撑柱右侧的固定架及延伸臂，所述位于所述支撑柱左侧的托杆下方设有一通槽。本发明塑料颗粒用分析天平由于结构简单，使用方便，提高了工作效率，满足了用户的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 塑料颗粒 分析 天平 | ||
【主权项】：
一种塑料颗粒用分析天平，其特征在于：所述塑料颗粒用分析天平包括框体、位于所述框体下方的支撑脚、位于所述支撑脚之间的收集箱、位于所述框体右侧的手持块、与手持快固定连接的连接杆、设置于所述连接杆上的电机、与电机连接的卡勾、设置于所述框体上表面的固定柱、固定柱所支撑的漏斗、设置于所述漏斗内的缓冲片、设置于所述框体内的支撑柱、托盘、与托盘固定连接的托杆、位于所述支撑柱一侧的收容柱、位于所述支撑柱右侧的固定架及延伸臂，所述位于所述支撑柱左侧的托杆下方设有一通槽。
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