[发明专利]一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺在审
| 申请号： | 201410571516.1 | 申请日： | 2014-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN104316376A | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 陈进 | 申请（专利权）人： | 合肥卓越分析仪器有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 | 代理人： | 程笃庆;黄乐瑜 |
| 地址： | 230000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，包括如下步骤：从待测样品上切取预定长度的试样坯料；沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到试样半成品；对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。本发明能够将火花台激发口完全覆盖，不会导致激发室漏气，实现了光电直读光谱分析，保证了产品的分析质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 直读 光谱分析 试样 制备 工艺 | ||
【主权项】：
一种光电直读光谱分析仪用试样制备工艺，其特征在于，包括如下步骤：S1、从待测样品上切取预定长度的试样坯料；S2、沿试样坯料长度方向或沿垂直于试样坯料长度方向的方向将试样压扁，得到将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖的试样半成品；S3、对试样半成品的分析面用平面砂轮沿同一方向进行打磨，打磨完成后用酒精擦除分析面上的碎屑得到试样成品；S4、清扫试样成品的背部的绝缘物，使试样成品与样品台接触，从而将光电直读光谱分析仪的火花台激发口完全覆盖。
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