[发明专利]一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统在审
| 申请号： | 201410577774.0 | 申请日： | 2014-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN104280348A | 公开（公告）日： | 2015-01-14 |
| 发明（设计）人： | 陈进 | 申请（专利权）人： | 合肥卓越分析仪器有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N21/63 |
| 代理公司： | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 | 代理人： | 程笃庆;黄乐瑜 |
| 地址： | 230000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统，包括设置在光学室外的样品、激发火花光源和设置在光学室内的透镜、凹面反光镜、入射调节狭缝装置、凹面光栅、多个出射狭缝装置和多个光电倍增管，出射狭缝装置、光电倍增管活动安装在光学室内，激发火花光源激发样品发射特征光谱线，特征光谱线入射到光学室内，通过透镜反射到凹面反光镜上，凹面反光镜反射出来的特征光谱线通过入射调节狭缝装置反射给凹面光栅，凹面光栅把特征光谱线分解成按波长大小顺序排列的单色平行光，凹面光栅反射单色平行光通过对应的出射狭缝装置射到对应的光电倍增管阴极上。本发明结构简单，调节方便，可以方便快捷地进行各种发光样品的成份及其成份含量的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 光电 直读 光谱分析 光学系统 | ||
【主权项】：
一种应用于光电直读光谱分析仪的光学系统，其特征在于，包括设置在光学室(10)外的样品(11)、激发火花光源(12)和设置在光学室(10)内的透镜(13)、凹面反光镜(14)、入射调节狭缝装置(15)、凹面光栅(16)、多个出射狭缝装置(17)和多个光电倍增管(18)，出射狭缝装置(17)、光电倍增管(18)活动安装在光学室(10)内，激发火花光源(12)激发样品(11)发射特征光谱线，特征光谱线入射到光学室(10)内，通过透镜(13)反射到凹面反光镜(14)上，凹面反光镜(14)反射出来的特征光谱线通过入射调节狭缝装置(15)反射给凹面光栅(16)，凹面光栅(16)把特征光谱线分解成按波长大小顺序排列的单色平行光，凹面光栅(16)反射单色平行光通过对应的出射狭缝装置(17)射到对应的光电倍增管(18)阴极上，光电倍增管(18)将对应的单色平行光的特征光谱线强度转变成电流信号并放大电流信号进行发光物质的成份及其成份含量的测量。
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