[发明专利]平板探测器的使用方法和控制装置有效
申请号: | 201410579442.6 | 申请日: | 2014-10-24 |
公开(公告)号: | CN104320595B | 公开(公告)日: | 2017-07-28 |
发明(设计)人: | 姬长胜;J·S·墨子 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | H04N5/32 | 分类号: | H04N5/32;H04N5/225 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201807 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种平板探测器的使用方法和控制装置,所述使用方法包括计算第k次照射在所述平板探测器上的使用面积;根据预估的所述平板探测器有效面积上探测单元累计所接受的剂量以及所述使用面积,确定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围,使所述平板探测器的有效面积上所接受的累积剂量均匀。通过所述使用方法和控制装置可以提高平板探测器的使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 平板 探测器 使用方法 控制 装置 | ||
【主权项】:
一种平板探测器的使用方法,其特征在于,包括:计算第k次照射在所述平板探测器上的使用面积;根据预估的所述平板探测器有效面积上探测单元累计所接受的剂量以及所述使用面积,确定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围,使所述平板探测器的有效面积上所接受的累积剂量均匀,其中,所述探测单元是所述平板探测器上的一个成像像素点,所述根据预估的所述平板探测器有效面积上探测单元累计所接受的剂量以及所述使用面积,确定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围包括:检测当射野的中心在所述平板探测器上的不同探测单元时,所述平板探测器的有效面积上探测单元累计所接受的剂量;选取使所述平板探测器所接受的累计剂量最平均时射野中心所在的探测单元,作为所述射野的中心在平板探测器上的位置;根据所述射野的中心在平板探测器上的位置以及所述使用面积,划定第k次照射的所述使用面积在所述平板探测器的有效面积上的位置分布范围。
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