[发明专利]测量超声波斜探头折射角的试块及其测量方法有效
| 申请号： | 201410593553.2 | 申请日： | 2014-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN104297350A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 马文民;陈智聪;肖学柱;杨建华;吕天明 | 申请（专利权）人： | 中广核检测技术有限公司;苏州热工研究院有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 孙仿卫;李艳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量超声波斜探头折射角的试块，其特征在于：所述的试块包括相互垂直的底面和竖直面、位于底面和竖直面之间的第一圆弧面、位于前后两侧的前侧面和后侧面，所述的第一圆弧面为向内凹陷的一四分之一内圆弧面，所述的前侧面或后侧面靠近第一圆弧面的边缘上刻有角度刻度，所述角度刻度值表示刻度点位置到所述第一圆弧面的圆心的连线与竖直面之间的夹角。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 超声波 探头 折射角 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量超声波斜探头折射角的试块，其特征在于：所述的试块包括相互垂直的底面和竖直面、位于底面和竖直面之间的第一圆弧面、位于前后两侧的前侧面和后侧面，所述的第一圆弧面为向内凹陷的一四分之一内圆弧面，所述的前侧面或后侧面靠近第一圆弧面的边缘上刻有角度刻度，所述角度刻度值表示刻度点位置到所述第一圆弧面的圆心的连线与竖直面之间的夹角。
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