[发明专利]一种GaN基发光二极管芯片的制备方法有效
申请号: | 201410594339.9 | 申请日: | 2014-10-29 |
公开(公告)号: | CN104300048A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 刘岩;马玉玲;彭璐;徐现刚 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/02 | 分类号: | H01L33/02 |
代理公司: | 济南日新专利代理事务所 37224 | 代理人: | 王书刚 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 一种GaN基发光二极管芯片的制备方法,包括以下步骤:(1)通过干法刻蚀沿GaN基外延片的p型GaN层到n型GaN层刻蚀出台面结构,在n型GaN层上制备出台面,同时去除表面残留的光刻胶;所述干法刻蚀为ICP刻蚀,包括两步,第一步采用Cl2和BCl2为刻蚀气体,刻蚀GaN基外延片,第二步采用O2,去除残留的光刻胶;(2)在p型GaN层的表面生长一层ITO透明导电膜;(3)分别在ITO透明导电膜和n型GaN层的台面上制备p型电极和n型电极;(4)在GaN基发光二极管芯片表面上制作钝化层。该方法在ICP刻蚀中通过增加一步O2等离子体去除光刻胶的步骤,可彻底的去除残留的光刻胶,保证芯片表面干净,简化了工艺流程,缩短了生产周期。 | ||
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【主权项】:
一种GaN基发光二极管芯片的制备方法,其特征是,包括以下步骤: (1)在GaN基外延片的p型GaN层的上表面涂正性光刻胶,对正性光刻胶进行光刻,光刻出所需台面结构的图形;根据台面结构的图形通过干法刻蚀沿GaN基外延片的p型GaN层到n型GaN层刻蚀出台面结构,在n型GaN层上制备出台面,同时去除表面残留的光刻胶;所述干法刻蚀为ICP刻蚀,刻蚀过程包括两步,第一步采用Cl2和BCl2为刻蚀气体,刻蚀GaN基外延层至n型GaN层,第二步采用O2作为刻蚀气体,去除残留的光刻胶;经过干法刻蚀,不仅完成台面结构图形的制作,而且将表面清洗干净,能够直接进行下一步的ITO生长; (2)在p型GaN层的表面生长一层ITO(Indium Tin Oxide,氧化铟锡)透明导电膜; (3)分别在ITO透明导电膜和n型GaN层的台面上制备p型电极和n型电极; (4)在GaN基发光二极管芯片表面上制作钝化层。
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