[发明专利]SRAM存储单元及提高其读写稳定性的电路有效

专利信息
申请号: 201410606630.3 申请日: 2014-10-31
公开(公告)号: CN105632549B 公开(公告)日: 2019-01-22
发明(设计)人: 吴守道;郑坚斌;于跃;王林;黄瑞锋 申请(专利权)人: 展讯通信(上海)有限公司
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413;G11C11/419
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦东新区张*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及电子通信技术领域,具体涉及一种SRAM存储单元及提高其读写稳定性的电路。包括,第一开关器件,可控制地连接一第一位线至一第一存储节点;第二开关器件,可控制地连接一第二位线至一第二存储节点;第一反相单元,串联于第一开关器件与第二开关器件之间,第一反相单元设有第一输入端和第一输出端,于第一输出端处定义第一存储节点;第二反相单元,串联于第一开关器件与第二开关器件之间,第二反相单元第二输入端与第一输出端连接,第二输出端与第一输入端连接,于第二输出端处定义第二存储节点。本发明有着更好的读写能力,在不用添加过多额外电路的前提下提高SRAM存储单元可靠性,降低了电路设计的复杂程度,并且节省了面积。
搜索关键词: sram 存储 单元 提高 读写 稳定性 电路
【主权项】:
1.一种SRAM存储单元,其特征在于,包括,一第一开关器件(303),于一字线(WL)和一写字线(WWL)的作用下可控制地连接一第一位线(BL)至一第一存储节点;一第二开关器件(304),于所述字线(WL)和所述写字线(WWL)的作用下可控制地连接一第二位线(BLB)至一第二存储节点;一第一反相单元,串联于所述第一开关器件(303)与所述第二开关器件(304)之间,所述第一反相单元设有第一输入端和第一输出端,于所述第一输出端处定义所述第一存储节点;一第二反相单元,串联于所述第一开关器件(303)与所述第二开关器件(304)之间,所述第二反相单元设有第二输入端和第二输出端,所述第二输入端与所述第一输出端连接,所述第二输出端与所述第一输入端连接,于所述第二输出端处定义所述第二存储节点;所述第一反相单元包括,第一PMOS管(301),所述第一PMOS管(301)可控制地连接于第一工作电源(PGL)和所述第一存储节点之间;第一NMOS管(305),所述第一NMOS管(305)的控制端与所述第一PMOS管(301)的控制端连接,所述第一NMOS管(305)可控制地连接于所述第一存储节点与一接地端(VSS)之间;所述第二反相单元包括,第二PMOS管(302),所述第二PMOS管(302)可控制地连接于第二工作电源(PGR)和所述第二存储节点之间;第二NMOS管(306),所述第二NMOS管(306)的控制端与所述第二PMOS管(302)的控制端连接,所述第二NMOS管(306)可控制地连接于所述第二存储节点与所述接地端(VSS)之间;所述第一开关器件(303)和/或所述第二开关器件(304)采用独立栅模式的FINFET器件,其控制端包括第一栅极(gate1)和第二栅极(gate2),其第一栅极(gate1)连接所述写字线(WWL),其第二栅极(gate2)连接所述字线(WL),所述写字线(WWL)连接一逻辑与运算单元的输出端,逻辑与运算单元的输入端分别连接所述字线(WL)和写控制信号(Write);在读操作时,使所述第二栅极(gate2)拉升到高电平,所述第一栅极(gate1)关断;在写操作时,使所述第一栅极(gate1)及所述第二栅极(gate2)一起开启。
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