[发明专利]一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统在审
| 申请号： | 201410610811.3 | 申请日： | 2014-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN104461864A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 宫云战;朱红;金大海;黄俊飞;王雅文;张大林 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统，所述方法包括：S1、将检测插件置入到Eclipse平台；S2、在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径；S3、根据所选择的缺陷模式和存储路径，选择所述Eclipse平台中待测试java文件和/或待测试工程并执行检测；S4、分析处理检测结果。该方法可以在Java开发环境下直接进行代码缺陷的检测，从而提高了软件开发测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 eclipse 插件 java 源代码 缺陷 检测 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：S1、将检测插件置入到Eclipse平台；S2、在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径；S3、根据所选择的缺陷模式和存储路径，选择所述Eclipse平台中待测试java文件和/或待测试工程并执行检测；S4、分析并处理检测结果。
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