[发明专利]一种用于高真空环境的半导体冷却装置有效
申请号: | 201410632188.1 | 申请日: | 2014-11-11 |
公开(公告)号: | CN105655271B | 公开(公告)日: | 2018-07-03 |
发明(设计)人: | 李学威;管莉娜;赵治国;何书龙;王文钊;吴青海 | 申请(专利权)人: | 沈阳新松机器人自动化股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 许宗富 |
地址: | 110168 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及半导体加工技术领域,具体公开一种用于高真空环境的半导体冷却装置。本发明的半导体冷却装置,包括晶圆支撑机构(1)、举升PIN支架机构(2)、冷却盘机构(3)、冷却盘隔热支撑机构(4)和气动举升机构(5),所述晶圆支撑机构(1)、举升PIN支架机构(2)、冷却盘隔热支撑机构(4)设置在所述冷却盘机构(3)上,所述冷却盘机构(3)设置在所述气动举升机构(5)上。本发明装置实现半导体的自动升降功能,并实现半导体的冷却。同时本发明针对半导体加工后温度过高的冷却的实现,有效地实现过高温半导体冷却。 | ||
搜索关键词: | 冷却盘 支撑机构 半导体冷却装置 冷却 高真空环境 气动举升 支架机构 隔热 晶圆 举升 半导体 半导体加工技术 半导体加工 高温半导体 有效地实现 温度过高 自动升降 | ||
【主权项】:
1.一种用于高真空环境的半导体冷却装置,包括晶圆支撑机构(1)、举升PIN支架机构(2)、冷却盘机构(3)、冷却盘隔热支撑机构(4)和气动举升机构(5),所述晶圆支撑机构(1)、举升PIN支架机构(2)、冷却盘隔热支撑机构(4)设置在所述冷却盘机构(3)上,所述冷却盘机构(3)设置在所述气动举升机构(5)上;所述晶圆支撑机构(1),用于支撑无需冷却的晶圆;所述举升PIN支架机构(2),用于升降待冷却的晶圆;所述冷却盘隔热支撑机构(4),用于隔离晶圆与所述冷却盘机构(3)以及支撑晶圆;所述气动举升机构(5),用于晶圆升降提供动力源。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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