[发明专利]一种用于高真空环境的半导体冷却装置有效

专利信息
申请号: 201410632188.1 申请日: 2014-11-11
公开(公告)号: CN105655271B 公开(公告)日: 2018-07-03
发明(设计)人: 李学威;管莉娜;赵治国;何书龙;王文钊;吴青海 申请(专利权)人: 沈阳新松机器人自动化股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 许宗富
地址: 110168 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及半导体加工技术领域,具体公开一种用于高真空环境的半导体冷却装置。本发明的半导体冷却装置,包括晶圆支撑机构(1)、举升PIN支架机构(2)、冷却盘机构(3)、冷却盘隔热支撑机构(4)和气动举升机构(5),所述晶圆支撑机构(1)、举升PIN支架机构(2)、冷却盘隔热支撑机构(4)设置在所述冷却盘机构(3)上,所述冷却盘机构(3)设置在所述气动举升机构(5)上。本发明装置实现半导体的自动升降功能,并实现半导体的冷却。同时本发明针对半导体加工后温度过高的冷却的实现,有效地实现过高温半导体冷却。
搜索关键词: 冷却盘 支撑机构 半导体冷却装置 冷却 高真空环境 气动举升 支架机构 隔热 晶圆 举升 半导体 半导体加工技术 半导体加工 高温半导体 有效地实现 温度过高 自动升降
【主权项】:
1.一种用于高真空环境的半导体冷却装置,包括晶圆支撑机构(1)、举升PIN支架机构(2)、冷却盘机构(3)、冷却盘隔热支撑机构(4)和气动举升机构(5),所述晶圆支撑机构(1)、举升PIN支架机构(2)、冷却盘隔热支撑机构(4)设置在所述冷却盘机构(3)上,所述冷却盘机构(3)设置在所述气动举升机构(5)上;所述晶圆支撑机构(1),用于支撑无需冷却的晶圆;所述举升PIN支架机构(2),用于升降待冷却的晶圆;所述冷却盘隔热支撑机构(4),用于隔离晶圆与所述冷却盘机构(3)以及支撑晶圆;所述气动举升机构(5),用于晶圆升降提供动力源。
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