[发明专利]测试座有效
申请号: | 201410635334.6 | 申请日: | 2014-11-12 |
公开(公告)号: | CN105588957B | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 张倍铭 | 申请(专利权)人: | 致伸科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/067 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 张睿 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明关于一种测试座,包括座体、承载座、导电板体、测试探针以及绝缘层。该承载座设置于该座体上,用以承载该被测物。该导电板体设置于该座体上且位于该承载座的上方,用以相对于该座体移动而接近或远离该承载座。该测试探针穿设于该导电板体上,且该测试探针伸出于该导电板体的一下表面,用以于该导电板体接近该承载座时与该电性接点接触。该绝缘层设置于该测试探针上或该导电板体上,用以分隔该测试探针以及该导电板体。由此,本发明测试座不但可避免因静电放电而损坏被测物,且可改善测试准确度下降的问题。 | ||
搜索关键词: | 测试 | ||
【主权项】:
1.一种测试座,用以测试一被测物,且该被测物上具有一电性接点,其特征在于,该测试座包括:座体;承载座,设置于该座体上,用以承载该被测物;导电板体,设置于该座体上且位于该承载座的上方,用以相对于该座体移动而接近或远离该承载座;测试探针,穿设于该导电板体上且该测试探针伸出于该导电板体的一下表面,用以于该导电板体接近该承载座时与该电性接点接触;以及绝缘层,设置于该测试探针上或该导电板体上,用以分隔该测试探针以及该导电板体,其中,该绝缘层设置于该测试探针的一外表面上,且分隔该测试探针以及该导电板体;或者,该导电板体具有一开孔,该开孔贯穿该导电板体,且该绝缘层设置于该开孔的侧壁上,以分隔该测试探针以及该导电板体。
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