[发明专利]CMOS影像传感器的像元结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410635650.3 申请日: 2014-11-12
公开(公告)号: CN104362163B 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 康晓旭 申请(专利权)人: 上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/8238
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 代理人: 吴世华,林彦之
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种CMOS影像传感器的像元结构及其制造方法,所述像元结构位于读取电路或处理电路之上,多层P型、N型材料通过重掺杂的接触结构使同质掺杂的膜层连接在一起,利用小电压即可形成厚耗尽层,利于光吸收;另一方面,利用金属假图形使多PN结结构具有凹凸的表面形貌结构,从而扩大光吸收的面积;同时,加入薄金属反射层可以将透射的光反射到像元吸收层内,进一步提升光吸收。利用本发明的像元结构,可以提高整个CMOS影像传感器的光学灵敏度和清晰度,提升了芯片的性能和可靠性。
搜索关键词: cmos 影像 传感器 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种CMOS影像传感器的像元结构,其制作于读取电路或处理电路的顶层之上,所述读取电路或处理电路的顶层包括介质层和介质层两边的各一个通孔,所述像元结构包括:金属反射层,位于所述介质层之上;金属假图形,位于所述金属反射层之上;金属连接图形,包括分别位于两个所述通孔之上的N型金属连接图形和P型金属连接图形;多层PN结结构,由P型材料和N型材料错层叠加于所述金属反射层、金属假图形和金属连接图形之上;接触结构,包括位于N型金属连接图形之上的纵向的N型接触结构和位于P型金属连接图形之上的纵向的P型接触结构,以使得每层N型材料通过N型接触结构与N型金属连接图形电连接,而每层P型材料通过P型接触结构与P型金属连接图形电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司,未经上海集成电路研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410635650.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top