[发明专利]CMOS影像传感器的像元结构及其制造方法有效
申请号: | 201410635650.3 | 申请日: | 2014-11-12 |
公开(公告)号: | CN104362163B | 公开(公告)日: | 2017-09-29 |
发明(设计)人: | 康晓旭 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/8238 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)31275 | 代理人: | 吴世华,林彦之 |
地址: | 201210 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种CMOS影像传感器的像元结构及其制造方法,所述像元结构位于读取电路或处理电路之上,多层P型、N型材料通过重掺杂的接触结构使同质掺杂的膜层连接在一起,利用小电压即可形成厚耗尽层,利于光吸收;另一方面,利用金属假图形使多PN结结构具有凹凸的表面形貌结构,从而扩大光吸收的面积;同时,加入薄金属反射层可以将透射的光反射到像元吸收层内,进一步提升光吸收。利用本发明的像元结构,可以提高整个CMOS影像传感器的光学灵敏度和清晰度,提升了芯片的性能和可靠性。 | ||
搜索关键词: | cmos 影像 传感器 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种CMOS影像传感器的像元结构,其制作于读取电路或处理电路的顶层之上,所述读取电路或处理电路的顶层包括介质层和介质层两边的各一个通孔,所述像元结构包括:金属反射层,位于所述介质层之上;金属假图形,位于所述金属反射层之上;金属连接图形,包括分别位于两个所述通孔之上的N型金属连接图形和P型金属连接图形;多层PN结结构,由P型材料和N型材料错层叠加于所述金属反射层、金属假图形和金属连接图形之上;接触结构,包括位于N型金属连接图形之上的纵向的N型接触结构和位于P型金属连接图形之上的纵向的P型接触结构,以使得每层N型材料通过N型接触结构与N型金属连接图形电连接,而每层P型材料通过P型接触结构与P型金属连接图形电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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