[发明专利]一种扫描测试锁存器宏单元及扫描测试方法

摘要

一种扫描测试锁存器宏单元及扫描测试方法，本发明的扫描测试设计方法通过定制的扫描测试宏单元，并结合特殊的设计流程，能够利用普通针对D触发器的扫描测试设计方法产生针对锁存器单元的基于结构的ATPG测试向量，解决现有基于锁存器设计的数字专用集成电路不易进行可测性设计开发，测试向量故障覆盖率低，时序分析复杂的问题，大幅度提高了芯片测试的故障覆盖率，保证了芯片测试的有效性和完备性，主要应用于基于锁存器设计的数字专用集成电路的测试向量开发。

主权项

一种扫描测试锁存器宏单元，其特征在于包括：两个锁存器、一个反相器和两个多路选择器；所述两个锁存器分别为测试锁存器和功能锁存器；两个多路选择器分别为第一多路选择器和第二多路选择器；第一多路选择器的0数据输入端口与数据端口D连接，1数据输入端口与宏单元的扫描输入端口SI连接，选择输入端口S1与宏单元的扫描使能端口SE连接，数据输出端口Y1与测试锁存器的输入端口D1连接；反相器的输入端口与宏单元的时钟输入端口CK连接，输出端口与测试锁存器的锁存控制信号输入端口G1连接；测试锁存器的输出端口Q1与第二多路选择器的1输入端口连接，反相输出端口QN1浮空；第二多路选择器的0输入端口与数据端口D连接，选择输入端口S2与宏单元的测试模式控制信号端口TM连接，数据输出端口Y2与功能锁存器的输入端口D2连接；功能锁存器的锁存控制信号输入端口G2与宏单元的时钟输入端口CK连接，输出端口Q2与宏单元的输出端口Q连接，反相输出端口QN2与宏单元的反相输出端口QN连接；若TM＝0，第二多路选择器输出0输入端口的数据，而不输出1输入端口的数据，第一多路选择器、反相器和测试锁存器对扫描测试锁存器宏单元的输出无作用，功能锁存器工作，扫描输入端口SI和扫描使能端口SE对扫描测试锁存器宏单元的输出无作用，扫描测试锁存器宏单元等效于单个锁存器；若TM＝1，第二多路选择器输出1输入端口的数据，而不输出0输入端口的数据，测试锁存器的输出端口Q1与功能锁存器的输入端D2连接，扫描测试锁存器宏单元的输入时钟信号为低电平时，测试锁存器有效输出；扫描测试锁存器宏单元的输入时钟信号为高电平时，功能锁存器有效输出，扫描测试锁存器宏单元等效于一个带数据输入选择端的扫描D触发器。