[发明专利]一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置有效
| 申请号： | 201410648131.0 | 申请日： | 2014-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN104316183A | 公开（公告）日： | 2015-01-28 |
| 发明（设计）人： | 景娟娟;周锦松;张雪静;李雅灿;曾晓茹 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;郑哲 |
| 地址： | 100080 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法及装置，其中校正方法包括计算第m列所有光谱通道中心波长与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离，选择距离最小的位置点s及中心波长为λm，s，在相邻的光谱通道上选择与s相邻的位置点及中心波长；计算s对应的中心波长λm，s与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离，以及相邻位置点对应的中心波长与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离；根据上述距离计算结果计算s对应的中心波长λm，s的反距离权重值，以及相邻位置点对应的中心波长的反距离权重值；根据上述反距离权重值计算结果计算第m列对应无偏离中心波长λj的光谱辐射能量值。采用反距离权重法进行谱线弯曲校正，可以提高校正光谱的精度，算法简单，计算速度快。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 色散 光谱 成像 仪谱线 弯曲 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种色散型光谱成像仪谱线弯曲校正方法，其特征在于，包括：计算第m列所有光谱通道中心波长与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离，选择距离最小的位置点s以及所述位置点对应的中心波长为λm，s，在相邻的光谱通道上，选择与所述位置点s相邻的位置点以及所述相邻的位置点对应的中心波长，其中，m取值为1～N，j取值为1～M，M为穿轨方向的像素个数，N为沿轨方向的像素个数；计算所述位置点s对应的中心波长λm，s与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离，以及所述相邻的位置点对应的中心波长与无偏离中心波长λj之间的欧氏距离；根据上述距离计算结果计算所述位置点s对应的中心波长λm，s的反距离权重值，以及所述相邻的位置点对应的中心波长的反距离权重值；根据上述反距离权重值计算结果计算所述第m列对应所述无偏离中心波长λj的光谱辐射能量值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电研究院，未经中国科学院光电研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410648131.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
