[发明专利]一种存储IO性能的测试方法

摘要

本发明公开一种存储IO性能的测试方法，属于存储IO性能的测试领域，具体步骤为：①配置存储，搭建存储服务环境；②配置压力机环境，搭建压力机测试环境；③各个压力机上分别安装测试软件vdbench，根据测试内容设置vdbench参数；④运行vdbench，输出测试结果；本发明通过这种测试方法能有效客观的模拟存储在各种具体的应用环境下的IO情形进行测试，能真实的反应在具体应用时存储IO的性能，总结其IO特性，合理分配存储，使存储性能得到最大限度的利用。

主权项

一种存储IO性能的测试方法，其特征是具体步骤为：①配置存储，搭建存储服务环境：创建RAID组，建立资源池，划LUN；创建iscsi主机组，建立iscsi主机，建立iscsi主机时，iscsi主机名从压力机端获得；配置存储iscsi网络；将LUN映射给主机组；②配置压力机环境，搭建压力机测试环境：安装操作系统，配置压力机数量；更改主机名；配置压力机IP；修改/etc/hosts配置文件，将压力机IP，主机名加入/etc/hosts文件中；关闭防火墙，selinux；配置无密码登陆；配置iscsi服务，在压力机端，启动ISCSI服务，查询ISCSI设备target的iqn号码，登陆到ISCSI存储设备；编辑multipath多路径软件的etc/multipath.conf配置文件；③各个压力机上分别安装测试软件vdbench，根据测试内容设置vdbench参数；④运行vdbench，输出测试结果。