[发明专利]存储设备寿命预测、确定方法及装置有效
| 申请号： | 201410664570.0 | 申请日： | 2014-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN104376875B | 公开（公告）日： | 2017-09-05 |
| 发明（设计）人： | 余霄;章根林;张睿夫 | 申请（专利权）人： | 华为数字技术（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)11363 | 代理人： | 逯长明,许伟群 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种存储设备寿命预测、确定方法及装置，所述预测方法包括获取存储设备的累计失效数据块数量，以及，与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数；判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值；当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时，利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型；利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。该方法不再是为存储设备设置一个固定的擦写次数门限值，而是结合存储设备在使用过程中的累计失效数据块数量，以及，累计擦写次数，因此，可以准确确定一个符合该存储设备的实际使用情况的擦写次数阈值。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 寿命 预测 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种存储设备寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：获取存储设备的累计失效数据块数量，以及，与所述累计失效数据块数量对应的累计擦写次数；判断所述累计失效数据块数量是否大于预设失效数据块限值；当所述累计失效数据块数量大于预设失效数据块限值时，利用所述累计擦写次数以及所述累计失效数据块数量确定与所述存储设备对应的预测模型；利用所述预测模型预测所述存储设备的擦写次数阈值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为数字技术（苏州）有限公司，未经华为数字技术（苏州）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410664570.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：设置有易断节点的地下自修复电力线缆
- 下一篇：信息保持介质及信息读取装置
