[发明专利]一种基于表面形貌数据的面形偏差检验方法有效

专利信息
申请号: 201410668341.6 申请日: 2014-11-20
公开(公告)号: CN105606036B 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 王鑫;高玫;付冠军 申请(专利权)人: 中国航空工业第六一八研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 杜永保
地址: 710065 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于面形偏差评价技术领域,涉及一种基于表面形貌数据的面形偏差评价方法。针对激光陀螺平面反射镜基片的高精度面形偏差测量,使用数字激光干涉仪和Matlab进行面形偏差参数的测量研究,实现了基于表面形貌数据的光学零件面形偏差自动判读评价方法。
搜索关键词: 面形偏差 表面形貌数据 面形偏差测量 平面反射镜 测量研究 光学零件 激光陀螺 数字激光 自动判读 干涉仪 检验
【主权项】:
1.一种基于表面形貌数据的面形偏差检验方法,其特征为:所述的检验方法包括以下步骤:步骤1.用数字激光干涉仪测量1.1 将所测零件背面涂覆深蓝色玻璃保护漆,待保护漆干后对被测零件进行测量;1.2 在测量参数选项中选择相应参数;1.3 将零件固定在测量用调整架上,调整干涉条纹为2条进行测量,并保存数据;步骤2.用Matlab软件读取数据用Matlab软件读取数字激光干涉仪保存的数据,确定有效数据区域并计算圆心坐标、半径;步骤3.零件表面轮廓数据的预处理3.1 确定圆心零件的圆心和半径;3.2 根据周围矩阵点的值对计算时未落在矩阵上的点进行高度值的估算,z(x,y)=z(xs,ys)*(x‑xb)*(y‑yb)+z(xs,yb)*(xb‑x)*(y‑ys)+z(xb,ys)*(xs‑x)*(y‑yb)+z(xb,yb)*(xs‑x)*(ys‑y)    (1)(1)式中z(x,y)表示(x,y)坐标下点的高度值,xs表示小于x值的最大整数,ys表示小于y值的最大整数,xb表示大于x值的最小整数,yb表示大于y值的最小整数;3.3 判定任意直径的高低光圈,首先将直径对应的表面轮廓的数据进行二次曲线拟合,并判断其二次曲线的二阶导数的正负,正对应的为低光圈,负对应为高光圈;步骤4.计算面形偏差4.1 计算半径偏差4.1.1 去除边缘效应的影响将测量区域边缘5个像素点的数据去掉,并以像素为单位进行采样;4.1.2 定义通过圆心的坐标系以圆心为原点,数据矩阵的行作为X轴,矩阵的列作为Y轴;4.1.3 确定直径旋转的方向和步长确定直径的起始角度、终止角度和旋转步长,直径以X轴正方向作为0°方向,向Y轴正方向逆时针旋转,至X轴负方向截止,共180°,步进的步长为1°;4.1.4 确定每条直径上的表面轮廓数值根据公式计算直径上任意一点的高度值,z(x,y)=z(xs,ys)*(x‑xb)*(y‑yb)+z(xs,yb)*(xb‑x)*(y‑ys)+z(xb,ys)*(xs‑x)*(y‑yb)+z(xb,yb)*(xs‑x)*(ys‑y)    (2)(2)式中z(x,y)表示(x,y)坐标下点的高度值,xs表示小于x值的最大整数,ys表示小于y值的最大整数,xb表示大于x值的最小整数,yb表示大于y值的最小整数;通过确定采样单位和计算采样数据,确定每条直径上对应的表面轮廓数值;4.1.5 计算半径偏差计算通过圆心的每个直径上对应的表面轮廓PV值,将此PV值作为该直径方向的半径偏差;4.2 计算象散偏差4.2.1 执行步骤4.1.1去除边缘效应的影响;4.2.2 执行步骤4.1.2定义通过圆心的坐标系;4.2.3 确定两条直径旋转的方向和步长确定两条直径的起始角度、终止角度和旋转步长,其中一条直径以X轴正方向作为0°方向,向Y轴正方向逆时针旋转,至Y轴正方向截止,共90°,步进的步长为1°;另一条直径与在第一条直径上角度的基础上加90°,也就是从Y轴正方向,逆时针转到X轴负方向;4.2.4 执行步骤4.1.4确定每条直径上的表面轮廓数值;4.2.5 判定每条直径的光圈的高低首先将直径对应的表面轮廓的数据进行二次曲线拟合,并判断其二次曲线的二阶导数的正负,正对应的为低光圈,负对应为高光圈;4.2.6 计算象散偏差按照步骤4.1分别计算某一角度上的两条直径的半径偏差,并根据步骤4.2.5的方法计算出该角度两条直径的光圈的高低;当两条直径的光圈高低方向相同时,用两个直径的半径偏差相减得出结果;高低方向不同的用两个直径对应的半径偏差相加得出结果,则该零件的半径偏差是该零件在90°上所有方向的半径偏差的最大值;4.3 计算局部偏差找到零件表面轮廓高度上的最大值、最小值和中值,计算最大值与中值的差,中值与最小值的差,取其绝对值较大者作为局部偏差。
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