[发明专利]一种多次反射光学样品分析系统在审
| 申请号： | 201410687155.7 | 申请日： | 2014-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN105607166A | 公开（公告）日： | 2016-05-25 |
| 发明（设计）人： | 赵辉;邓文平 | 申请（专利权）人： | 苏州谱道光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02B5/00 | 分类号： | G02B5/00;G02B1/10;G02B1/11;G02B3/00;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 常亮 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多次反射光学样品分析系统，所述系统包括至少一个第一光学器件，所述第一光学器件包括至少两个可分离设置成不同光学器件的功能区域，至少两个功能区域集成为一体的第一光学器件，多次反射光学样品分析系统中的光路至少两次通过待分析样品。本发明光学样品分析系统中的第一光学器件将第一区域和第二区域集成化进行设计，使得整个多次反射光学样品分析系统的结构简单，性能稳定、可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多次 反射 光学 样品 分析 系统 | ||
【主权项】：
一种多次反射光学样品分析系统，其特征在于，所述系统包括至少一个第一光学器件，其特征在于，所述第一光学器件包括至少两个可分离设置成不同光学器件的功能区域，至少两个功能区域集成为一体的第一光学器件，多次反射光学样品分析系统中的光路至少两次通过待分析样品。
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