[发明专利]一种同轴度测量的方法在审

专利信息
申请号: 201410695921.4 申请日: 2014-11-27
公开(公告)号: CN105698738A 公开(公告)日: 2016-06-22
发明(设计)人: 彭建明 申请(专利权)人: 彭建明
主分类号: G01B21/24 分类号: G01B21/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610000 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公布了一种同轴度测量的方法,包括放置在地面的底座,在所述底座上安装有两个相互平行的限位台,在两个限位台之间的凹槽内安装有支架底座,在支架底座上固定安装有竖直支架,在所述竖直支架上活动连接有用于安装测定表的水平支架。本发明在两个限位台和支架底座上均设置有通孔,在该通孔内安装转轴,转轴穿过凹槽并固定在两个限位台上,支架底座能够以转轴为中心在一定范围内转动,可以调节竖直支架的位置,从而调节测试表的位置;通过调节螺杆的转动,调整底座与支架底座之间的距离,在调节螺杆的支撑作用与弹簧的弹力作用下,支架底座能牢固地位于凹槽内,而且通过调节螺杆可以对支架底座的位置进行微调,有利于使用。
搜索关键词: 一种 同轴 测量 方法
【主权项】:
一种同轴度测量的方法,包括放置在地面的底座(1),其特征在于:在所述底座(1)上安装有两个相互平行的限位台(2),在两个限位台(2)之间的凹槽内安装有支架底座(3),在支架底座(3)上固定安装有竖直支架(4),在所述竖直支架(4)上活动连接有用于安装测定表的水平支架(5),两个限位台相对的面和底座的上表面构成凹槽,该凹槽的横截面为矩形,在该凹槽内安装有支架底座,支架底座上安装有竖直支架,在竖直支架上安装有水平支架,水平支架和竖直支架活动连接,可以通过调节水平支架和竖直支架的位置关系改变其位置,从而可以调节位于水平支架上测试表的位置,便于测试。
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