[发明专利]一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法

摘要

一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法，该试验系统包括上位机和测试板；测试板包括SRAM，配置PROM，控制处理FPGA与被测FPGA；控制处理FPGA包括串口通信模块、过程控制模块、被测FPGA配置模块，JTAG回读模块及SRAM读写模块；被测FPGA上搭载简单功能；上位机负责流程控制和数据处理；控制处理FPGA负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用控制处理FPGA与被测FPGA的JTAG接口相连，通过JTAG接口实现单粒子翻转检测，系统更加稳定，结果更加可靠，并且可以自动识别被测FPGA的器件型号，自适应不同型号被测FPGA的单粒子辐照试验测试。

主权项

一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统，其特征在于包括：上位机和测试板；所述上位机用于进行试验参数设置、试验过程控制和试验结果显示；所述测试板放置于辐照罐内，测试板包括SRAM、配置PROM、控制处理FPGA、RS485通信接口和被测FPGA；所述控制处理FPGA包括被测FPGA配置模块、JTAG回读模块、SRAM读写模块、过程控制模块和串口通信模块；控制处理FPGA中的串口通信模块通过RS485通信接口接收上位机发送的控制指令及被测FPGA配置码流，通过过程控制模块将控制指令发送给被测FPGA配置模块、JTAG回读模块和SRAM读写模块，并通过SRAM读写模块将接收的被测FPGA配置码流存放在SRAM中；单粒子辐照试验前，过程控制模块控制被测FPGA配置模块通过SRAM读写模块从SRAM中读取被测FPGA配置码流，并通过JTAG接口对被测FPGA进行配置；被测FPGA配置完成后，过程控制模块控制JTAG回读模块通过JTAG接口从被测FPGA中回读码流，并通过SRAM读写模块发送给SRAM，作为回读对照码流存储在SRAM中；单粒子辐照试验开始后，过程控制模块控制JTAG回读模块通过JTAG接口从被测FPGA中实时回读码流，作为试验码流，同时通过SRAM读写模块从SRAM中读取回读对照码流。