[发明专利]掺杂方法在审
申请号: | 201410706160.8 | 申请日: | 2014-11-27 |
公开(公告)号: | CN105702798A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 沈培俊;金光耀;王懿喆;陈炯;洪俊华 | 申请(专利权)人: | 上海晶玺电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/265;H01L21/225 |
代理公司: | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人: | 薛琦;吕一旻 |
地址: | 200092 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种掺杂方法,包括:在第一导电类型衬底的背面注入第一导电类型离子以形成第一导电类型注入层;通过热扩散工艺在该第一导电类型衬底的正面中形成第一导电类型掺杂层,并且扩散过程中在该第一导电类型掺杂层和该第一导电类型注入层上分别形成氧化层,并且在热扩散过程中修复离子注入的损伤、激活掺杂离子和热推进;蚀刻背面的预定区域直至暴露出该第一导电类型衬底;在与该预定区域相对应的衬底中形成第二导电类型掺杂区域。本发明充分利用了离子注入和扩散掺杂的工艺特点,先采用离子注入形成背场再通过扩散法形成前场,两道工艺即能实现四种效果,具有极高的工艺连贯性。 | ||
搜索关键词: | 掺杂 方法 | ||
【主权项】:
一种掺杂方法,其特征在于,其包括以下步骤:S1:在一第一导电类型衬底的背面注入第一导电类型离子以形成第一导电类型注入层;S2:通过热扩散工艺在该第一导电类型衬底的正面中形成第一导电类型掺杂层,并且扩散过程中在该第一导电类型掺杂层和该第一导电类型注入层上分别形成氧化层,并且在热扩散过程中完成离子注入的损伤修复、激活和推进;S3:蚀刻该第一导电类型衬底背面的预定区域直至暴露出该第一导电类型衬底;S4:在与该预定区域相对应的第一导电类型衬底中形成第二导电类型掺杂区域。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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