[发明专利]一种探针和测试设备有效

专利信息
申请号: 201410725874.3 申请日: 2014-12-03
公开(公告)号: CN104391238B 公开(公告)日: 2017-08-04
发明(设计)人: 孙俊民;薛金祥;王小虎 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/067;G01R1/04
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 代理人: 彭瑞欣,陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种探针和测试设备。该探针包括针体和信号线,信号线包括线芯和包裹在线芯外围的绝缘层,针体的第一端与线芯连接,针体的第二端裸露在外用于测试,还包括夹持结构,用于夹持针体。该探针通过设置夹持结构,使针体能被夹持牢固,从而使针体在测试过程中不容易出现扎不稳或跑针现象,确保测试信号能正常引入,进而不仅确保了信号测试的准确性,而且还提高了信号测试的效率。同时,该夹持结构使针体调节起来也更加方便快捷。
搜索关键词: 一种 探针 测试 设备
【主权项】:
一种用于电性测试的探针,包括针体和信号线,所述信号线包括线芯和包裹在所述线芯外围的绝缘层,所述针体的第一端与所述线芯连接,所述针体的第二端裸露在外用于测试,其特征在于,还包括夹持结构,用于夹持所述针体;所述线芯为被包裹在所述绝缘层内部的能导电的空心筒,所述空心筒的内径等于所述针体的直径;所述夹持结构包括锥台,所述锥台沿其轴线开设有第一通孔,所述针体的第一端穿过所述第一通孔插入至所述空心筒中,所述针体的第二端裸露于所述锥台外并靠近所述锥台的面积较大的下底面;所述第一通孔的直径小于等于所述针体的直径;所述锥台沿其轴线的延伸方向在一侧开设有贯穿其高度的缺口,所述缺口与所述第一通孔贯通;所述夹持结构还包括压环和弹簧,所述压环和所述弹簧均套设在所述锥台的侧面上,所述压环和所述弹簧的内径相等,且所述锥台的面积较小的上底面的直径<所述压环和所述弹簧的内径<所述锥台的面积较大的下底面的直径。
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