[发明专利]电磁超声波测厚方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410727877.0 申请日: 2014-12-02
公开(公告)号: CN104359432A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 闫重强;段凯;钱宏亮;李赛霄;王艳斌;李涛 申请(专利权)人: 中电科信息产业有限公司
主分类号: G01B17/02 分类号: G01B17/02
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 饶钱
地址: 450000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明实施例提供了一种电磁超声波测厚方法及装置,改善了现有超声波测厚方法准确度有待提高的问题。方法包括:从待检测体的上底面向下底面猝发多个波;获得猝发的多个波在待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2;第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值,第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个峰值分别对应一个时间间隔;计算第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值,选取时间间隔比值属于预设阈值的两个时间间隔;根据选取的时间间隔计算出待测检测体的厚度。使用该方法,可以显著提高超声波测厚的准确度,实施方便,易于推广应用。
搜索关键词: 电磁 超声波 方法 装置
【主权项】:
一种电磁超声波测厚方法,其特征在于,应用于电磁超声波测厚装置,所述方法包括:所述电磁超声波测厚装置在一个时间点从待检测体的上底面向下底面猝发多个波;获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第一反射脉冲簇B1,获得猝发的所述多个波在所述待检测体下底面的第二反射脉冲簇B2;所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中均包括多个峰值,所述第一反射脉冲簇B1和第二反射脉冲簇B2中的每个所述峰值分别对应一个时间间隔,所述时间间隔为从所述时间点到获得每个所述峰值之间的时长;计算所述第一反射脉冲簇B1中任一峰值对应的时间间隔与所述第二反射脉冲簇B2中任一峰值对应的时间间隔的比值,选取所述时间间隔的比值属于预设阈值的两个时间间隔;根据选取的所述时间间隔计算出所述待测检测体的厚度。
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