[发明专利]测量待测器件的热阻的方法有效
| 申请号： | 201410728145.3 | 申请日： | 2014-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN104459509B | 公开（公告）日： | 2017-12-29 |
| 发明（设计）人： | 肖超;林志典;王立新 | 申请（专利权）人： | 北京中科新微特科技开发股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京名华博信知识产权代理有限公司11453 | 代理人： | 李冬梅 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量待测器件的热阻的方法，该方法包括以下步骤a)获得待测器件在阶跃功率脉冲作用下有源区的瞬态温度响应；b)运用快速傅里叶变换获得该瞬态温度响应的频谱；c)确定用于对所述瞬态温度响应进行反卷积运算的维纳逆滤波器的参数；d)基于该瞬态温度响应的频谱，利用该维纳逆滤波器对该瞬态温度响应进行反卷积运算，获得待测器件的热阻。本发明减少了测量待测器件的热阻的工作量和时间，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 器件 方法 | ||
【主权项】：
一种测量待测器件的热阻的方法，该方法包括以下步骤：a)获得待测器件在阶跃功率脉冲作用下有源区的瞬态温度响应；b)运用快速傅里叶变换获得该瞬态温度响应的频谱；c)确定用于对所述瞬态温度响应进行反卷积运算的维纳逆滤波器的参数；d)基于该瞬态温度响应的频谱，利用该维纳逆滤波器对该瞬态温度响应进行反卷积运算，获得待测器件的热阻。
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