[发明专利]基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统及测试方法

摘要

本发明公开了一种基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统及测试方法，所述测试系统的测试流程包括以下步骤：（一）读取传感器TEDS信息；（二）调理模块组自动配置；（三）采集通道的自动切换；（四）传感器数据的非线性校正；（五）数据解析。本发明检测过程简单，无需人工输入传感器信息，且无需人工更换调理模块和切换测试通道，极大提高了检测效率。本发明适用于经过智能化改造后的传感器输出信号的自动调理和自动测试。

主权项

一种基于TEDS传感器和矩阵开关技术的智能测试系统，包括调理模块组、矩阵开关模块、数据采集模块、控制模块，其特征在于：所述调理模块组与外部TEDS传感器之间设有信号调理自动配置矩阵开关模块，所述信号调理自动配置矩阵开关模块设置有与外部TEDS传感器数量相同的列通道，以及与调理模块组中的调理模块数量相同的行通道，每一列通道的信号输入端对应连接唯一的TEDS传感器的测试信号输出端，每一行通道信号输出端连接唯一对应的调理模块组中的调理模块的信号输入端；调理模块组与数据采集模块之间设有信号采集自动配置矩阵开关模块，所述信号采集自动配置矩阵开关模块设置有与调理模块组中的调理模块数量相同的行通道，以及与数据采集模块通道数量相同的列通道，每一行通道的信号输入端对应连接唯一的调理模块组中各个调理模块的信号输出端，每一列通道的信号输出端通过数据采集模块连接控制模块；所述控制模块控制连接信号调理自动配置矩阵开关模块、信号采集自动配置矩阵开关模块，同时还通过TEDS矩阵开关自动配置模块连接外部TEDS传感器的TEDS信息管脚。