[发明专利]一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法

摘要

本发明提供一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法及装置，测量步骤包括：首先将激光二极管发出的发散光束直接照射到样品池溶液中的纳米颗粒，获得自混频信号，所述自混频信号包含所述纳米颗粒粒径信息；然后将所述自混频信号转变，获得由M个不同频率处的功率组成的功率谱；最后将所述功率谱处理得到所述纳米颗粒粒径分布列向量X。测量装置包括：激光器、样品池、跨阻放大电路和多通道真有效值转换电路。采用发散光束直接照射样品池，极大地简化了光学结构，有效地防止光学器件界面的反射对自混频信号的干扰。采用多通道真有效值转换电路处理信号，降低对数据采集速度、数据采集量、数据储存量和数据处理量等方面的要求，可实现快速测量。

主权项

一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法，其特征在于，方法步骤如下：S1：将激光二极管发出的发散光束直接照射到样品池中的纳米颗粒，获得自混频信号；S2：将所述自混频信号转变，获得由M个不同频率处功率组成的功率谱；S3：将所述功率谱处理得到所述纳米颗粒粒径分布列向量X。