[发明专利]一种基于高阻硅衬底的LDMOS MMIC芯片在审
申请号: | 201410738869.6 | 申请日: | 2014-12-08 |
公开(公告)号: | CN104392993A | 公开(公告)日: | 2015-03-04 |
发明(设计)人: | 陈强;多新中;张复才;沈美根;任春岭 | 申请(专利权)人: | 江苏博普电子科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04 |
代理公司: | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
地址: | 214131 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于高阻硅衬底的LDMOSMMIC芯片,所述芯片上集成有LDMOS晶体管、电感、电容、电阻、金属连线与图形和焊盘,其特征是,所述芯片采用无外延层的P型高阻硅衬底;所述芯片正面的LDMOS源极和芯片背面的金属层通过硅衬底通孔技术连接。本发明所达到的有益效果:采用高阻硅衬底,以及硅衬底通孔技术将芯片正面的LDMOS源极与芯片背面的金属层连接。高阻硅衬底使得片上电感、电容、电阻、金属连线与图形和焊盘等的对地寄生电容和损耗降低,LDMOSMMIC的性能得到提高,从而可以减少金属互联的层数,降低成本。同时本技术能降低LDMOS晶体管N型漏极和漂移区与P型衬底之间的PN结电容,使得LDMOS晶体管的输出电容降低,增加了LDMOS器件的带宽与功率转换效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 高阻硅 衬底 ldmos mmic 芯片 | ||
【主权项】:
一种基于高阻硅衬底的LDMOS MMIC芯片,所述芯片上集成有LDMOS晶体管、电感、电容、电阻、金属连线与图形和焊盘,其特征是,所述芯片正面的LDMOS源极和芯片背面之间设置有衬底;所述衬底采用无外延层的P型高阻硅衬底;所述芯片正面的LDMOS源极和芯片背面的金属层通过硅通孔技术连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的