[发明专利]一种低温真空微波辐射源温度均匀性测量与控制系统

摘要

本发明提供了一种低温真空条件下使用的微波辐射源温度测量与控制系统，包括非接触温度测量单元、二维扫描单元和外围数据采集控制单元和，所述的非接触温度测量单元包括测量单元安装外壳和光路系统，所述光路系统包括消杂光光阑、孔径光阑、平面反射镜、离轴抛物面镜、频率调制器、分光片、光束收集器、MTC探测器、光束收集器和中波红外InSb探测器。本发明具有结构简单、通用性强、测温精度高、能在线实时监测等功能，能够有效提高微波辐射源的辐射精度和均匀性，对航天微波类载荷定标精度的提高具有很大的意义。

主权项

一种低温真空微波辐射源温度均匀性测量与控制装置，其特征在于，包括非接触温度测量单元、二维扫描单元和外围数据采集控制单元和，所述的非接触温度测量单元包括测量单元安装外壳和光路系统，所述光路系统包括消杂光光阑、孔径光阑、平面反射镜、离轴抛物面镜、频率调制器、分光片、光束收集器、MTC探测器、光束收集器和中波红外InSb探测器，所述安装外壳下端固定有离轴抛物面镜，所述离轴抛物面镜上方固定有平面反光镜，所述平面反光镜右侧依次固定有消杂光光阑、孔径光阑，所述消杂光光阑、孔径光阑固定在所述安装外壳内，所述平面反光镜10的右侧上方固定有中波红外InSb探测器，所述中波红外InSb探测器上端设有光束收集器，所述光束收集器上端设有分光片，所述分光片右侧依次设有光束收集器、MTC探测器，所述的长波红外MCT探测器和中波红外InSb探测器都采用液氮制冷方式，所述的外围数据采集控制单元包含有探测器数据采集控制模块、二维扫描单位控制模块和温度反馈控制单元，所述外围数据采集控制单元的输入端与长波红外MCT探测器和中波红外InSb探测器相连。