[发明专利]一种电子设备加速可靠性增长试验方法在审
| 申请号： | 201410750612.2 | 申请日： | 2014-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN105737881A | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 陈永祥;赵帅帅;吴红;张冰;陈立伟;杨博;孙立明;徐海博;冯伟;崔英伟;闫旭东 | 申请（专利权）人： | 天津航天瑞莱科技有限公司;北京航天斯达科技有限公司;北京强度环境研究所 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 王朋 |
| 地址： | 天津市塘沽*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明可靠性试验技术领域，具体涉及一种电子设备加速可靠性增长试验方法。目的是解决高可靠长寿命电子设备的可靠性水平提高和验证问题。其特征在于，它包括如下步骤：确定正常环境应力剖面、确定加速应力剖面、基于故障分类计算加速系数、确定总试验时间和试验结果评估。本发明提供了一种综合环境应力加速试验的方法，解决了综合环境应力下可靠性试验的加速问题；同时提供了一种加速可靠性增长试验方法，能够在短时间内提高和验证电子设备可靠性水平，解决了高可靠长寿命电子设备可靠性水平的提高和验证问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子设备 加速 可靠性 增长 试验 方法 | ||
【主权项】：
一种电子设备加速可靠性增长试验方法，具体包括如下步骤：步骤一：确定正常环境应力剖面；步骤二：确定加速应力剖面；步骤三：基于故障分类计算加速系数；步骤四：确定总试验时间；步骤五：试验结果评估。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津航天瑞莱科技有限公司;北京航天斯达科技有限公司;北京强度环境研究所，未经天津航天瑞莱科技有限公司;北京航天斯达科技有限公司;北京强度环境研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410750612.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于球体工件的旋转检测系统
- 下一篇：带有台阶高度的微米级光栅校准样片
