[发明专利]波长色散X射线荧光光谱法测定引流砂中三氧化二铬的方法有效
| 申请号： | 201410767760.5 | 申请日： | 2014-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN104535600B | 公开（公告）日： | 2018-02-23 |
| 发明（设计）人： | 吕琦;崔隽;郭芳;沈克;李小杰;贾丽晖;朱慧;古兵平 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所11302 | 代理人： | 刘杰 |
| 地址： | 430080 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种波长色散X射线荧光光谱法测定引流砂中三氧化二铬的方法，称取引流砂试样，与淀粉按照质量比2～41混合均匀，压片，通过波长色散X射线荧光光谱仪测定引流砂试样中Cr的光谱强度，然后根据标准工作曲线得出引流砂试样中三氧化二铬含量。本发明具有较好的重复性和再现性，精密度和准确度高，简便快捷，节省了人力和物力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 波长 色散 射线 荧光 光谱 测定 引流 砂中三 氧化 方法 | ||
【主权项】：
波长色散X射线荧光光谱法测定引流砂中三氧化二铬的方法，其特征在于：建立X射线荧光光谱法测定引流砂试样中三氧化二铬含量的标准工作曲线，标准曲线Cr2O3含量的检测范围为12.53％‑38.92％，称取引流砂试样和淀粉试样，二者质量比为4:1，质量和为5.0～5.5克，混匀后倒在圆形塑料环内，圆形塑料环放在钢制手柄上，在压饼机下压制成圆片，通过波长色散X射线荧光光谱仪测定引流砂试样中Cr元素的光谱强度，根据标准工作曲线得出引流砂试样中三氧化二铬含量；所述的波长色散X射线荧光光谱仪参数设置为：元素测定通道为固定道，波长为2.2910×10‑10m，分析电压为50KV，分析电流为50mA，检测晶体为LiF200，探测器为ExKrBe。
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