[发明专利]一种锻件的超声波探伤工艺

摘要

本发明公开了一种锻件的超声波探伤工艺，包括如下工序：2）、耦合剂；可用机油、甘油等透声性能好、具不损害工件的液体；3）、操作方法:3.1）锻件一般应进行纵波探伤，简形锻件根据需要，可进行横波探伤；3.2）检验探伤面的光洁度，应不低于5，且表面平整均匀，与反射面平行，圆柱形锻件其端面应与轴线垂直，以便轴向探伤，方型锻件的端面应加工平整，相邻的端面应相互垂直；探伤表面应无划伤；3.3）锻件的几何形状及表面检查合格后，方可进行探伤；3.4）用棉纱及布去除探伤表面的油垢和污物；4）、灵敏度；5）、扫查方法。本发明操作简单，对操作者经验要求低，而且产品质量高。

主权项

一种锻件的超声波探伤工艺，其特征是：包括如下工序：1）、探伤设备应符合下列规定:a. 仪器和探头的组合灵敏度：在达到所探工件最大声程处的探伤灵敏度时,灵敏度余量 至少为10dB；b.探头频率主要为2.5MHZ，频率误差为+10%；c.主要采用晶片尺寸为Φ20mm的硬保护膜直探头；d.必要时可采用2MHZ或2.25MHZ的，以及晶片尺寸不大于28mm的探头；e.探头主声束应无双峰、无偏斜；2）、耦合剂可用机油、甘油等透声性能好、具不损害工件的液体；3）、操作方法:3.1）锻件一般应进行纵波探伤，简形锻件根据需要，可进行横波探伤；3.2）检验探伤面的光洁度，应不低于5，且表面平整均匀，与反射面平行，圆柱形锻件其端面应与轴线垂直，以便轴向探伤，方型锻件的端面应加工平整，相邻的端面应相互垂直；探伤表面应无划伤；3.3）锻件的几何形状及表面检查合格后，方可进行探伤；3.4）用棉纱及布去除探伤表面的油垢和污物；4）、灵敏度a.原则利用大平底采用计算法（查CTS‑22型仪器、2.5MHZ、Φ20mm探头的AVG 曲线图）确定探伤灵敏度；对由于几何形状所限，以及缺陷附近探伤区内的工件，可采用试块法；b.用底波法校正灵敏度，校正点的位置应选在工件上无缺陷的完好区域；c.对于检测面是曲面而又无法采用底波法的工件，采用与工件相同或相近（0、7‑1、1倍）的参考试块；或采用小直径晶片的探使其近伤区的长度小于等于1/4工件半径这样可不需要进行曲面补偿；d.探伤灵敏度不得低于Φ2mm当量直径；5）、扫查方法a.锻件原则上应从两相互垂直方向进行探伤,尽可能地检测到锻件的全体积；b.扫查范围：应对锻件整个表面进行连续全面扫查；c.扫查速度：探头移动速度不超过150mm/s；d.扫查覆盖应为探头直径的15%以上；e.当锻件探测厚度大于400mm时，应从相对两端面探伤。